Transmission line noise from standard and proton-implanted Si

K. T. Chan, Albert Chin, C. M. Kwei, D. T. Shien, W. J. Lin

研究成果: Article同行評審

42 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋 深入研究「Transmission line noise from standard and proton-implanted Si」主題。共同形成了獨特的指紋。

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