Thermal stability of SiGe dynamic threshold pMOSFET

W. M. Liao*, C. F. Shih, Pei-Wen Li

*Corresponding author for this work

研究成果: Paper › 同行評審

1 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋 深入研究「Thermal stability of SiGe dynamic threshold pMOSFET」主題。共同形成了獨特的指紋。