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Plasma passivation effects on polycrystalline silicon thin-film transistors utilizing nitrous oxide plasma
Fang Shing Wang
*
, Chun Yao Huang, Huang-Chung Cheng
*
Corresponding author for this work
電子工程學系
研究成果
:
Article
›
同行評審
6
引文 斯高帕斯(Scopus)
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指紋
指紋
深入研究「Plasma passivation effects on polycrystalline silicon thin-film transistors utilizing nitrous oxide plasma」主題。共同形成了獨特的指紋。
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Engineering & Materials Science
Thin film transistors
Passivation
Polysilicon
Plasmas
Oxides
Auger electron spectroscopy
Interface states
Defects
Hot carriers
Spectroscopy
Threshold voltage
Grain boundaries
Nitrogen
Ions
Hydrogen
Gases
Physics & Astronomy
nitrous oxides
passivity
transistors
silicon
thin films
defects
silicon films
Auger spectroscopy
mass spectroscopy
electron spectroscopy
threshold voltage
grain boundaries
nitrogen
oxides
hydrogen
gases
ions