IIIB-1 Degradation of 77-K MOSFET Characteristics Due to Channel Hot Electrons

Jack Y.C. Sun, Matthew R. Wordeman

研究成果: Article同行評審

8 引文 斯高帕斯(Scopus)
原文English
頁(從 - 到)1970
頁數1
期刊IEEE Transactions on Electron Devices
31
發行號12
DOIs
出版狀態Published - 十二月 1984

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