具有增益校正之鎖相迴路、用於鎖相迴路之增益量測方法、校正方法及抖動量測方法

Wei-Zen Chen (Inventor)

研究成果: Patent

原文???core.languages.zh_TW???
專利號I492545
出版狀態Published - 11 七月 2015

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