每年專案
個人檔案
研究專長
計算智慧、資料採礦與機器學習、系統晶片與高效能微處理器驗證與測試
雲端運算：架構與系統開發、深次微米時代電子設計可靠度分析與防護
經歷
2002/6~2006/6 加州大學聖塔芭芭拉分校微處理器測試和驗證實驗室研究生研究員
2002/9~2004/6 加州大學聖塔芭芭拉分校系統單晶片設計和測試實驗室助理研究生
2006/6~2006/12 美國飛思卡爾差異化工具組織實習生
2007~ 迄今 國立交通大學電機系副教授
教育/學術資格
PhD, University of California, Santa Barbara
外部位置
指紋
查看啟用 Hung-Pin Wen 的研究主題。這些主題標籤來自此人的作品。共同形成了獨特的指紋。
網路
國家層面的近期外部共同作業。通過按一下圓點深入探索詳細資料。
專案
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針對智慧型車用晶片之前瞻性【以資料為驅動力之可靠度與測試方法】研究-子計畫三：為抑制軟性電子延遲與錯誤率應用機器學習強化超大型積體電路設計的抗輻射能力(I)
1/08/19 → 31/07/20
研究計畫: Ministry of Science and Technology
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研究成果
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DAD-FF: Hardening Designs by Delay-Adjustable D-Flip-Flop for Soft-Error-Rate Reduction
Lin, D. Y. W. & Wen, C. H. P., 四月 2020, 於 : IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems. 28, 4, p. 1030-1042 13 p., 8959402.研究成果: Article › 同行評審
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Radiation-Harden RISC Processor for Micro-Satellites in Standard CMOS
Chiueh, H-M., Yang, C. H., Wen, C. H. P., Yang, C. G., Chien, P. H., Hung, C. Y., Chen, Y. J., Wang, Y. P., Chiu, C. F. & Lin, J., 八月 2020, 2020 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test, VLSI-DAT 2020. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 9196348. (2020 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test, VLSI-DAT 2020).研究成果: Conference contribution › 同行評審
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SAFCast: Smart Inter-Datacenter Multicast Transfer with Deadline Guarantee by Store-And-Forwarding
Kang, H. H., Hung, C. H. & Wen, C. H. P., 七月 2020, INFOCOM 2020 - IEEE Conference on Computer Communications. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., p. 1034-1042 9 p. 9155218. (Proceedings - IEEE INFOCOM; 卷 2020-July).研究成果: Conference contribution › 同行評審
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Dynamic Switch Migration in Distributed Software-Defined Networks to Achieve Controller Load Balance
Xu, Y., Cello, M., Wang, I. C., Walid, A., Wilfong, G., Wen, C. H. P., Marchese, M. & Chao, J. H., 1 三月 2019, 於 : IEEE Journal on Selected Areas in Communications. 37, 3, p. 515-529 15 p., 8635530.研究成果: Article › 同行評審
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FAE: Autoencoder-Based Failure Binning of RTL Designs for Verification and Debugging
Shen, C. H., Liang, A. C. W., Hsu, C. C. H. & Wen, C. H. P., 9 十一月 2019, 2019 IEEE International Test Conference, ITC 2019. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 9000178. (Proceedings - International Test Conference; 卷 2019-November).研究成果: Conference contribution › 同行評審