簡 昭欣

研究成果

每年研究成果 1993 2020

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每年研究成果

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• 1998

  Evaluation of plasma charging damage in ultrathin gate oxides

  Lin, H-C., Chen, C. C., Chien, C-H., Hsein, S. K., Wang, M. F., Chao, T-S., Huang, T. Y. & Chang, C. Y., 1 三月 1998, 於: IEEE Electron Device Letters. 19, 3, p. 68-70 3 p.

  研究成果: Review article › 同行評審

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  • Threshold voltage
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  27 引文 斯高帕斯（Scopus）