每年專案
個人檔案
研究專長
元件物理、奈米元件技術、奈米記憶體元件技術、ULSI製程、元件可靠性分析
經歷
1999/09~2005/08 國研院國家奈米元件實驗室副研究員
2005/08~迄今 國立交通大學電子工程學系/電子研究所教授
教育/學術資格
PhD, National Chiao Tung University
外部位置
指紋
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網路
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專案
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以原子層沉積技術來製作高品質金屬摻雜於介面層之應用於垂直堆疊式高遷移率鍺通道奈米片電晶體之研究
1/08/20 → 31/07/21
研究計畫: Ministry of Science and Technology
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以原子層沉積技術來製作高品質金屬摻雜於介面層之應用於垂直堆疊式高遷移率鍺通道奈米片電晶體之研究
1/08/22 → 31/07/23
研究計畫: Ministry of Science and Technology
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以原子層沉積技術來製作高品質金屬摻雜於介面層之應用於垂直堆疊式高遷移率鍺通道奈米片電晶體之研究
1/08/21 → 31/07/22
研究計畫: Ministry of Science and Technology
研究成果
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High-Accuracy Deep Neural Networks Using a Contralateral-Gated Analog Synapse Composed of Ultrathin MoS nFET and Nonvolatile Charge-Trap Memory
Chung, Y. Y., Cheng, C. C., Chou, Y. C., Chueh, W. C., Chung, W. H., Yu, Z., Hung, T. Y. T., Huang, L. Y., Wang, S. Y., Teng, L. C., Chang, W. H., Li, L. J. & Chien, C. H., 十一月 2020, 於: Ieee Electron Device Letters. 41, 11, p. 1649-1652 4 p., 9206053.研究成果: Article › 同行評審
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Impact of the Crystal Phase of ZrO on Charge Trapping Memtransistor as Synaptic Device for Neural Network Application
Chou, Y. C., Tsai, C. W., Yi, C. Y., Chung, W. H. & Chien, C. H., 2020, 於: IEEE Journal of the Electron Devices Society. 8, p. 572-576 5 p., 9091548.研究成果: Article › 同行評審
開啟存取 -
Improving the Performance of Charge Trapping MemTransistor as Synaptic Device by Ti-doped HfO2
Chou, Y. C., Chung, W. H., Tsai, C. W., Yi, C. Y. & Chien, C. H., 2020, (Accepted/In press) 於: IEEE Journal of the Electron Devices Society.研究成果: Article › 同行評審
開啟存取 -
Neuro-Inspired-in-Memory Computing Using Charge-Trapping MemTransistor on Germanium as Synaptic Device
Chou, Y. C., Tsai, C. W., Yi, C. Y., Chung, W. H., Wang, S. Y. & Chien, C-H., 九月 2020, 於: IEEE Transactions on Electron Devices. 67, 9, p. 3605-3609 5 p., 9153812.研究成果: Article › 同行評審
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Study of E-Mode AlGaN/GaN MIS-HEMT with La-silicate Gate Insulator for Power Applications
Huang, K. N., Lin, Y. C., Lin, J. C., Hsu, C. C., Lee, J. H., Wu, C. H., Yao, J. N., Hsu, H-T., Nagarajan, V., Kakushima, K., Tsutsui, K., Iwai, H., Chien, C-H. & Chang, E. Y., 二月 2020, 於: Journal of Electronic Materials. 49, 2, p. 1348-1353 6 p.研究成果: Article › 同行評審