高真空變溫掃描探針顯微鏡

設備/設施: Equipment

  • 地點

    科三館B107室

    Taiwan

設備詳細資料

Description

重要規格:本套設備提供室溫大氣下的STM(掃描穿隧電流顯微鏡), AFM(原子力顯微鏡), MFM(磁力顯微鏡)等掃描探針顯微鏡功能,並可用幫浦抽真空達高真空(5 X 10-6 torr),在真空環境下可加熱達600 K以上,或冷卻到100 K低溫下操作。
用途:奈米尺度之表面形貌量測
解析度:X,Y:0.2 nm、Z: 0.01 nm (scanner:150 um、20 um)
掃描功能與探針:Contact mode atomic force microscope (AFM), Lateral force microscope (LFM), Conducting contact mode atomic force microscope (C-AFM), Tapping mode atomic force microscope (DFM), Magnetic force microscope (MFM), Scanning tunneling microscope with I-V and CITS (STM)
真空:Rotary pump and Turbo pump,可至2.0 X 10-6 Torr
溫度控制:低溫下量測可至-150°C,高溫下可達300°C,樣品最高可至800°C停留10分鐘

服務項目:表面形貌(Surface topography, 原子力顯微鏡可達一奈米解析度)、表面電性量測、表面磁性量測
設備相關照片

詳細資料

名字SPA-300HV
擷取日期1/06/04
生產商SII Nanotechnology Inc.

指紋

探索使用此設備的研究領域。這些標籤是根據相關成果而產生。共同形成了獨特的指紋。