Micro-Photoluminescence System

Equipment/facility: Equipment

  • Location

    科學三館 SC566

    Taiwan

Equipments Details

Description

重要規格:用途: 奈米材料及半導體奈米結構之微螢光光譜分析
掃描波段: 紫外-可見-紅外光波段200-2600 nm
溫度控制: 低溫與變溫量測, 操作溫度:10K~300K
空間解析度: 2μm
服務項目:
奈米材料及半導體奈米結構之微螢光光譜分析
Photo associated with equipment

Details

Name自組式微螢光光譜量測系統
Acquisition date1/01/93
Manufacturers

National Chiao Tung University